伟芯科技参会回顾 | 2025季丰电子技术研讨会·江苏站完美收官！

7月3日，由上海季丰电子股份有限公司主办的《2025季丰电子技术研讨会·江苏站》在无锡圆满落幕。本次研讨会汇聚了季丰电子轮值CEO倪卫华、季丰电子FA（失效分析）总监高峰、伟芯科技副总马驰程、赛默飞高级经理唐涌耀、上海速展总监唐立云等十余位行业专家，围绕半导体产业链的关键技术挑战与创新解决方案展开深度交流。

聚焦行业热点，共谋技术突破

本次研讨会紧扣半导体行业前沿议题，涵盖失效分析（FA）技术、透射电子显微镜（TEM）在先进制程研发中的应用、车规级芯片ESD（静电放电）防护设计、一站式ESD可靠性技术服务等核心领域。

会上部分精彩回顾

专家老师们分享在失效分析领域的最新进展，包括电性失效定位（EMMI/OBIRCH）、物理失效分析（FIB/SEM/TEM）等技术在先进制程芯片中的应用案例。探讨了透射电子显微镜（TEM）在FinFET、GAA（环绕栅极晶体管）等先进半导体结构分析中的关键作用，为3nm及以下制程的研发提供高分辨率表征手段等。

其中伟芯科技副总马驰程围绕《高可靠性、低成本、高性能ESD设计》展开技术分享，重点解析全芯片ESD防护方案的优化策略，助力国产芯片降本赋能。

- 会议总结 -

本次研讨会为行业提供了技术交流平台，助力产业伙伴，共同突破技术壁垒，推动中国半导体产业的高质量发展！

伟芯科技

专业的集成电路静电保护（ESD）技术和IP产品提供商，成立于徐州国家高新技术产业开发区电子产业园。

立足国内，放眼全球，为广大集成电路企业客户提供ESD IP库开发、全芯片ESD保护设计、ESD可靠性测试、ESD失效分析和改进方案、ESD专利授权等产品和服务。通过定制化的ESD设计技术降低芯片制造成本，一次成功的ESD技术缩短产品上市周期，与广大集成电路企业一道打造高可靠性、高竞争力的国产集成电路产品。